이미지 부품 제조업체 설명 최소 주문 수량 재고 작업
SN74BCT8373ADW Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
1
RFQ
8,500
재고 있음
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SN74BCT8373ADWR Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
1
RFQ
8,500
재고 있음
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SN74BCT8373ADWRE4 Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
1
RFQ
8,500
재고 있음
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SN74BCT8373ANT Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
1
RFQ
8,500
재고 있음
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SN74BCT8373ADWRG4 Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
1
RFQ
8,500
재고 있음
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