이미지 부품 제조업체 설명 최소 주문 수량 재고 작업
SN74ABT8646DL Texas Instruments
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP
1
RFQ
8,500
재고 있음
견적 요청
SN74ABT8646DLR Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP
1
RFQ
8,500
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SN74ABT8646DW Texas Instruments
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC
1
RFQ
8,500
재고 있음
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SN74ABT8652DL Texas Instruments
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP
1
RFQ
8,500
재고 있음
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SN74ABT8652DW Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
1
RFQ
8,500
재고 있음
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SN74ABT8646DWR Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
1
RFQ
8,500
재고 있음
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SN74ABT8646DWRE4 Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
1
RFQ
8,500
재고 있음
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SN74ABT8652DLR Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP
1
RFQ
8,500
재고 있음
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SN74ABT8652DLRG4 Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP
1
RFQ
8,500
재고 있음
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SN74ABT8652DWR Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
1
RFQ
8,500
재고 있음
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1 / 2 Page, 26 Records